JF-3X型X射線晶體勞厄照相與定向儀
採用勞厄照相技術之高精度晶體定向分析儀器。
描述
此款定向儀係利用背射勞厄照相,將底片安裝在晶體與射線源之間,而入射光束則在底片上的小孔通過照射晶體表面,在符合布拉格定律nλ=2dsinθ定律下產生衍射光束可於底片顯影,如此可測量未知晶體單位晶胞的形狀和大小,以測定晶體的取向和評定晶體的完善性。對晶體材料進行精確測角定向時,係利用X射線通過前置單色器,衍射線被單色化後照射到樣品上,符合公式nλ=2dsinθ時產生衍射,被計數管接收放大,通過表顯示強度,測角儀顯示器讀出準確角度值。
技術規格
- 電源:AC220V /50Hz / 30A
- 整機功率:2kW
- 靶材:銅靶
- 管電壓:50kV,連續可調
- 管電流:50mA,連續可調
- 制冷:循環水,制冷水箱
- 防護:鉛有機玻璃防護罩
- 照相
相機:背反射勞厄相機
照相方式:自動定時(倒計時)
定時時間:1秒~9999秒 - 定向
方式:高精度(前置單色器)
測角範圍:θ10°~60°;2θ10°~120°
顯示器:數字顯示;度、分、秒;最小讀數10″
顯示精度:1″
光閘:腳踏電磁光閘
綜合精度:±15″



