JF-3X型X射線晶體勞厄照相與定向儀

採用勞厄照相技術之高精度晶體定向分析儀器。
描述

此款定向儀係利用背射勞厄照相,將底片安裝在晶體與射線源之間,而入射光束則在底片上的小孔通過照射晶體表面,在符合布拉格定律nλ=2dsinθ定律下產生衍射光束可於底片顯影,如此可測量未知晶體單位晶胞的形狀和大小,以測定晶體的取向和評定晶體的完善性。對晶體材料進行精確測角定向時,係利用X射線通過前置單色器,衍射線被單色化後照射到樣品上,符合公式nλ=2dsinθ時產生衍射,被計數管接收放大,通過表顯示強度,測角儀顯示器讀出準確角度值。

技術規格

  • 電源:AC220V /50Hz / 30A
  • 整機功率:2kW
  • 靶材:銅靶
  • 管電壓:50kV,連續可調
  • 管電流:50mA,連續可調
  • 制冷:循環水,制冷水箱
  • 防護:鉛有機玻璃防護罩
  • 照相
    相機:背反射勞厄相機
    照相方式:自動定時(倒計時)
    定時時間:1秒~9999秒
  • 定向
    方式:高精度(前置單色器)
    測角範圍:θ10°~60°;2θ10°~120°
    顯示器:數字顯示;度、分、秒;最小讀數10″
    顯示精度:1″
    光閘:腳踏電磁光閘
    綜合精度:±15″
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